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描述：小麥表型測(cè)量儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)的測(cè)量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 優(yōu)云譜 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
優(yōu)云譜小麥表型測(cè)量儀
小麥育種研究中，小麥表型參數(shù)至關(guān)重要，小麥表型檢測(cè)儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標(biāo)的測(cè)量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在小麥品種篩選、小麥產(chǎn)量預(yù)測(cè)、麥穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決小麥的表型參數(shù)測(cè)量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。
優(yōu)云譜小麥表型測(cè)量儀應(yīng)用廣泛：
1、小麥畝穗數(shù)檢測(cè)合適時(shí)期： 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。
2、麥穗形態(tài)測(cè)量的時(shí)期：室內(nèi)考種時(shí)期：
3、小麥夾角測(cè)量時(shí)期：抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。
4、千粒重測(cè)量時(shí)期： 室內(nèi)考種時(shí)期。
5、小麥株高測(cè)量時(shí)期： 各個(gè)生育時(shí)期。
三、技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍和誤差：
1、小麥畝穗數(shù)測(cè)量誤差： ≤±5%。
2、麥穗形態(tài)測(cè)量范圍： 5~20cm。
穗長誤差： ±2%。
小穗數(shù)誤差： ≤ 3個(gè)。
3、小麥夾角測(cè)量范圍： 0-180°。
作物粗： 0-5.2cm。
夾角測(cè)量誤差： +5%。
4、作物莖粗測(cè)量誤差： ±1%。
5、千粒重測(cè)量誤差： ±2%。
6、株高測(cè)量范圍： 0.1-1.1m。
測(cè)量誤差： ±1%。
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